顯微過濾

Ⅰ 亞顯微鏡，電子顯微鏡，光學顯微鏡的區別

電子顯微鏡（electron microscope），簡稱電鏡或電顯，是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的解析度受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的解析度（約0.2納米）遠高於光學顯微鏡的解析度（約200納米）。
構造。電子源是一個釋放自由電子的陰極，一個環狀的陽極加速電子。陰極和陽極之間的電壓差必須非常高，一般在數千伏到3百萬伏之間。
電子透鏡用來聚焦電子。一般使用的是磁透鏡，有時也有使用靜電透鏡的。電子透鏡的作用與光學顯微鏡中的光學透鏡的作用是一樣的。光學透鏡的焦點是固定的，而電子透鏡的焦點可以被調節，因此電子顯微鏡不像光學顯微鏡那樣有可以移動的透鏡系統。
真空裝置。真空裝置用以保障顯微鏡內的真空狀態，這樣電子在其路徑上不會被吸收或偏向。
樣品架。樣品可以穩定地放在樣本架上。此外往往還有可以用來改變樣品（如移動、轉動、加熱、降溫、拉長等）的裝置。
探測器，用來收集電子的信號或次級信號。
種類。利用透射電子顯微鏡（Transmission Electron Micros TEM）可以直接獲得一個樣本的投影。在這種顯微鏡中電子穿過樣本，因此樣本必須非常薄。樣本的厚度取決於組成樣本的原子的原子量、加速電子所用的電壓和所希望獲得的解析度。樣本的厚度可以從數納米到數微米不等。原子量越高、電壓越低，樣本就必須越薄。
通過改變物鏡的透鏡系統人們可以直接放大物鏡的焦點的像。由此人們可以獲得電子衍射像。使用這個像可以分析樣本的晶體結構。
在能量過濾透過式電子顯微鏡（Energy Filtered Transmission Electron Micros，EFTEM）中人們測量電子通過樣本時的速度改變。由此可以推測出樣本的化學組成，比如化學元素在樣本內的分布。
掃描電子顯微鏡（Scanning electron microscope，SEM）中的電子束盡量聚焦在樣本的一小塊地方，然後一行一行地掃描樣本。入射的電子導致樣本表面散發出電子，顯微鏡觀察的是這些每個點散射出來的電子。由於這樣的顯微鏡中電子不必透射樣本，因此其電子加速的電壓不必非常高。場發射掃描電子顯微鏡是一種比較簡單的電子顯微鏡，它觀察樣本上因強電場導致的場發射所散發出來的電子。
假如觀察的是透過樣本的掃描電子的話，那麼這種顯微鏡被稱為掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Micros，STEM）。
光學顯微鏡。是一種利用光學透鏡產生影像放大效應的顯微鏡。
由物體入射的光被至少兩個光學系統（物鏡和目鏡）放大。首先物鏡產生一個被放大實像，人眼通過作用相當於放大鏡的目鏡觀察這個已經被放大了的實像。一般的光學顯微鏡有多個可以替換的物鏡，這樣觀察者可以按需要更換放大倍數。這些物鏡一般被安置在一個可以轉動的物鏡盤上，轉動物鏡盤就可以使不同的目鏡方便地進入光路
至於亞顯微鏡，我不太清楚。應該沒有那種顯微鏡，應該是細胞的亞顯微結構，即細胞器級別